产品名称：光电编码器冷热冲击老化检测设备

【规格/SPEC】 

光电编码器冷热冲击老化检测设备清除法：

▲、光电编码器冷热冲击老化检测设备适用于军工、航天单位，它的维修难度是环境实验设置装备摆设中较高的一款设置装备摆设。根据笔者多年的利用履历总结出一些光电编码器冷热冲击老化检测设备清除法。

▲、光电编码器冷热冲击老化检测设备在高温实验中，如温度变化达不到实验温度值时，可以查抄电器系统，逐一清除妨碍。如温度升得很慢，就要检察风循环系统，看一下风循环的调治挡板是否开启正常。

▲、光电编码器冷热冲击老化检测设备低温达不到实验的指标观察温度的变化，是温度降的很慢，还是温度到肯定值后温度有上升的趋向，前者就要查抄一下，做低温实验前是否将事情室烘干，使事情室连结枯燥后再将实验样品放入事情室内再做实验，事情室内的实验样品是否安排的过多，使事情室内的风不能充分循环。如果不是雷同环境，可以请专业的厂家维修。

光电编码器冷热冲击老化检测设备应用范围：  

▲、我司光电编码器冷热冲击老化检测设备有着非常多的应用范围，有着非常众多的人选择这款产品，因为有这非常好应用性，在其他的方面都是有着非常大的改变，并且这款产品有着更加耐用的性能，寿命大大的增加等等这些无一不是能够让的客户的利益大大的增加。

▲、我司光电编码器冷热冲击老化检测设备能够能够更加好的做到，能够更加好的仿真不同电子构件，能让的客户在使用的过程中我们能够有这更加好的实际使用环境中遭遇的温度条件，

▲、能够让的光电编码器冷热冲击老化检测设备能够迅速的升降温度，改变环境温差范围能够让的我们为客户更加好更加便利。

▲、光电编码器冷热冲击老化检测设备可以提供更为严格测试环境，缩短测试时间，降低测试费用，但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响，产生非使用状态的破坏试验。

光电编码器冷热冲击老化检测设备满足标准：

▲、GB/T2423.1-2001低温试验方法；                      

▲、GB/T2423.2-2001高温试验方法； 

▲、GB/T2423.22-1989温度变化试验N；                    

▲、国军标GJB150.3-86；  

▲、国军标GJB150.4-86；                                 

▲、国军标GJB150.5-86；

▲、GJB150.5-86温度冲击试验；                           

▲、GJB360.7-87温度冲击试验；

▲、GJB367.2-87 405温度冲击试验。                      

▲、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式   

▲、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式       

▲、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化 

▲、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则         

▲、GB/T 2423.22-2002温度变化    

▲、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则,            

▲、EIA 364-32热冲击（温度循环）

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