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高压加速老化试验箱,pct高压加速老化试验机,高加速寿命试验-正航仪器设备
高压加速老化试验箱
    PCT老化试验机用途:   试验箱磁性材料检测的新宠,用磁性材料改进的存储器称为磁电随机存取存储器(M eRAM)。它极有可能被用来制造未来的存储芯片,这样的芯片既可以用在几乎所有的电子应用,包括智能手机、平板电脑、计算机及微处理器中,也可以用于数据储存,例如计算机和大型数据中心使用的固态硬盘中。 ...
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    高压加速老化试验箱使用的环境要求: ▲、地面平整,通风良好,不含易燃、易爆、腐蚀性气体和粉尘。  ▲、附近没有强电磁辐射源。  ▲、设备周围留有适当的维护空间。  ▲、温度:5℃~30℃(24小时内的平均温度≤30℃)。  ▲、相对湿度:≤85%RH(夏季使用要开启空调)   ▲、气压:86~106kpa。 ...
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    产品名称:PCT高压加速老化试验 我司在PCT高压加速老化试验箱内胆,为了能够更加好的符合国家安全容器标准,,带有复合可以防止试验结露滴水现象,能够避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果的PCT高压加速老化试验箱内胆采用圆弧设计,从而避免配备双层不锈钢产品架,也可根据客户产品规格尺寸免费量身定制专用产品架。 ...
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     高压加速老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力与工作应力,加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。 ...
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