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PCT高压加速老化试验箱

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加速老化试验箱
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产品名称:PCT高压加速老化试验箱

请按以下常规尺寸和测试测试选择合适的型号,如果有特殊要求和尺寸本公司可以为客户提供定做!


【规格/SPEC】

仪器用途

 

PCT高压加速老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力与工作应力,加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。

 

仪器特点

1. PCT高压加速老化试验箱采用进口微电脑控制饱和蒸气温度、微电脑 P.I.D 自动演算控制饱和蒸气温度。

 

2. PCT高压加速老化试验箱采用指针显示正负压表;时间控制器采 LED 显示器;自动水位控制器,水位不足时提供警示。

 

3. PCT高压加速老化试验箱圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准, 可防止试验中结露滴水设计.。

 

4. PCT高压加速老化试验箱圆幅内衬,不锈钢圆幅型内衬设计,可避免蒸气潜热直接冲击试品.。

 

5. PCT高压加速老化试验箱精密设计,气密性良好,耗水量少,每次加水可连续 200h。

 

6. 自动门禁,圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制,专利安全门把设计,箱内有大于常压时测试门会被反压保护。

 

7. 内压力愈大时,专利packing,箱门会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长packing寿命。

 

8. 临界点 LIMIT 方式自动安全保护,异常原因与故障指示灯显示。

 

9. 安全阀,当锅内压力超过最大工作值自动排气泄压。

 

10. 一体成型硅胶门垫圈,气密度良好,且使用寿命长。

 

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