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本标准规定了过载继电器进行可靠性验证试验的一般要求，包括过我继电器可靠性指标、可靠性等级、可靠性试验条件、可靠性试验方案和可靠性试验程序等。

本标准适用于符合GB 14048 .4或GB 14048.6 规定的产品，可作为制造厂制订过载继电器可靠性指标及试验方法的指导性文件。

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的〈不包括勘误的内容〉或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。

GB/T2900.18 1992 电工术语低压电器(eqvIEC60050-44 1: 1984)

GB/T3187 1994 可靠性、维惨性术语(idtIEC 60050-191: 1991)

GB/T5080.1 设备可靠性试验总要求(GB/T5080.1一1986 ， idt IEC 60605-1: 1978)

GB/T5080.2 设备可靠性试验试验周期设计导则(GB/T5080.2一1986 ， neq IEC 60605-2: 1978)

GB/T5080.4设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布) (GB/T

5080.4 1985, neq IEC 60605-4: 1978)

GB/T5080.5 设备可靠性试验成功率的验证试验方案(GB/T5080.5一1985 ， idt IEC 60605-5: 1982)

GB/T5080.6 设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验(GB/T5080.6一1996 , idt IEC

60605-6: 1989)

GB/T5080.7 设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案

(GB/T5080.7一1986 ， idt IEC 60605-7: 1978)

GB/T14048.1 2006 低压开关设备和控制设备总则(IEC60947-1: 2001 , MOD)

GB 14048.4 2∞3 低压开关设备和控制设备机电式接触器和电动机起动器(IEC 60947-4-1:

2000, IDT)

GB 14创8.命-1998 低压开关设备和控制设备接触器和电动机起动器第2 部分:交流半导体电

动机控制器和起动器(idtIEC60947-4-2: 1995)

3.1 术语和定义

GB/T2900.18 、GB/T3187 、GB/T5080.1 、GB/T5080.2 、GB/T5080.4、GB/T5080.5 、GB/T5080.6 、GB/T5080GB/T14048.1 、GB 14创8.4和GB 14048.6 中确立的以及下列术语和定义适用于本标准。

3.1.1

成功率success ratio

产品在规定的条件下完成规定功能的概率或在规定条件下试验成功的概率。

3.1.2

定时或定数载尾试验方案time or failure cUI'tailed t臼tplan

在试验期间，对试品进行连续的或短间陆的监测，若累积相关试验时间达到了预定的试验截尾时间，而相关失效数未达到预定的截尾失效数，则判为接收:若累积相关试验时间未达到预定的试验截尾时间，而相关失效数达到了预定的截尾失效数，则判为拒收。

3.1.3

相关失效(关联失效) relevant failure

在解释试验结果或计算可靠性特征量的数值时必须计人的失效。

3.1 .4

相关试验时间relevant test time

与试品相关失效数有关的用来验证可靠性要求或用来计算可靠性特征量的试验时间。

3.1.5

使用方凤险consumer's risk

当产品的真实成功率等于不可接收的成功率Rl 时，产品被接收的概率。

3.1.6

触头回路电压降contact-clrcuit voltage drop

从触头组件两引出端测得的一对闭合触头间的电压降值。